美国DATARAY S-BR2-Si狭缝扫描式光斑分析仪,Beam'R2 光斑分析仪

美国DATARAY S-BR2-Si狭缝扫描式光斑分析仪,Beam'R2 光斑分析仪

美国DATARAY S-BR2-Si狭缝扫描式光斑分析仪,Beam'R2 光斑分析仪 美国DATARAY 生产两种类型的扫描狭缝光束分析仪：BeamMap 系列，提供实时 M²、发散、聚焦和对准管理，以及 Beam'R 系列， 紧凑且精确的光束分析，所有的狭缝扫描光束分析仪均配备 Si、Ge 和 InGaAs 探测器，覆盖波长从 190 nm 到 2500 nm。

美国DATARAY S-BR2-Si XY 扫描狭缝系统，190 至 2500* nm

端口供电的 USB 2.0

特征

• 190 至 1150 nm，硅探测器
• 650 至 1800 nm，InGaAs 探测器
• 1000 至 2300 或 2500 nm，InGaAs（扩展）探测器
• 光束直径为 5 µm 至 4 mm，刀刃模式下为 2 µm
• 端口供电的USB 2.0；3 m 柔性电缆；没有电源砖
• 0.1 µm 采样和分辨率
• 线性和对数 XY 剖面、质心
• 轮廓缩放和狭缝宽度补偿
• 经济、准确
• M² 选项 – 光束传播分析、发散、聚焦

应用领域

• 激光打印和打标
• 医用激光器
• 二极管激光系统
• 光纤电信组件聚焦 – 用于对波导和光纤端部重新成像的 LensPlate2™ 选项
• 开发、生产、现场服务
• 连续波；脉冲激光，Φ µm ≥ [500/(PRR，单位：kHz)]
• 使用可用的 M2DU 平台进行 M² 测量

Specification	Detail
Wavelength	Si detector: 190 to 1150 nm InGaAs detector: 650 to 1800 nm Si + InGaAs detectors: 190 to 1800 nm Si + InGaAs (extended) detectors: 190 to 2300 or 2500 nm
Scanned Beam Diameters	Si detector: 5 µm to 4 mm‚ to 2 µm in Knife-Edge mode InGaAs detector: 10 µm to 3 mm‚ to 2 µm in Knife-Edge mode InGaAs (extended) detector: 10 µm to 2 mm‚ to 2 µm in Knife-Edge mode
Beam Waist Diameter Measurement	Second moment (4s) diameter to ISO 11146; Fitted Gaussian & TopHat 1/e² (13.5%) width User selectable % of peak Knife-Edge mode for very small beam
Measured Sources	CW; Pulsed lasers‚ Φ µm ≥ [500/(PRR in kHz)]
Resolution Accuracy	0.1 µm or 0.05% of scan range ± < 2% ± = 0.5 µm
Maximum Power & Irradiance	1 W Total & 0.5 mW/µm²
Gain Range	1‚000:1 Switched; 4‚096:1 ADC range
Displayed Graphics	X-Y Position & Profiles‚ Zoom x1 to x16
Update Rate	~5 Hz
Pass/Fail Display	On-screen selectable Pass/Fail colors. Ideal for QA & Production.
Averaging	User selectable running average (1 to 8 samples)
Statistics	Min.‚ Max.‚ Mean‚ Standard Deviation Log data over extended periods
XY Profile & Centroid	Beam Wander display and logging
Minimum PC Requirements	Windows, 2 GB RAM, USB 2.0/3.0 port

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